Zoskupený detail podľa order_id
Systém skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) vybavený FIB, 3D-EBSD, 3D-EDS detektormi a Spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energie, za účelom analýzy ľahkých kovových prvkov vrátane lítia (Li)
Identifikátor: 539470
Súhrn zákazky
| Obstarávateľ | Ústav materiálového výskumu Slovenskej akadémie vied, verejná výskumná inštitúcia |
|---|---|
| Pod/Nadlimitná | Nadlimitná zákazka |
| Posledný výsledok | 05.11.2025 |
| Posledná zmluva | 31.10.2025 |
| PHZ | 2 135 000 EUR |
| Hodnota spolu | 2 237 910 EUR |
| Počet oznámení výsledku | 1 |
| Ponuky spolu / Vylúčené spolu | 1 / 0 |